這 專用集成電路設(shè)計(jì)流程是一種高度自動(dòng)化的方法,它應(yīng)用了最先進(jìn)的深亞微米設(shè)計(jì)方法,例如早期平面規(guī)劃、布局鏈接、時(shí)序驅(qū)動(dòng)布局和布線。
首次正確聲明得到了測(cè)試設(shè)計(jì)措施的支持,例如全掃描設(shè)計(jì)、ATPG(自動(dòng)測(cè)試模式生成)、BIST(內(nèi)置自測(cè)試)、邊界掃描宏隔離、IDDQ 測(cè)試等。
通過(guò)使用先進(jìn)的驗(yàn)證方法,如靜態(tài)時(shí)序分析、形式驗(yàn)證和明確定義的所有技術(shù)的簽核程序,可以滿足緊迫的上市時(shí)間周期。
對(duì)于各種設(shè)計(jì)步驟,我們使用行業(yè)領(lǐng)先的市售工具。我們對(duì)標(biāo)準(zhǔn)接口和工具的重視極大地簡(jiǎn)化了與客戶設(shè)計(jì)流程的集成。
我們確保不斷學(xué)習(xí)設(shè)計(jì)流程和技術(shù),并根據(jù)最新的芯片結(jié)果定期更新我們的設(shè)計(jì)系統(tǒng)和庫(kù)。